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簡要描述:透射電鏡實驗(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構,這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡,電子束的波長要比可見光和紫外光短得多,并且電子束的波長與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比,也就是說電壓越高波長越短。目前TEM的分辨力可達0.2nm。
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實驗原理透射電鏡實驗是以電子束透過樣品經(jīng)過聚焦與放大后所產(chǎn)生的物像,投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關,因此可以形成明暗不同的影像。由于電子易散射或被物體吸收,故穿透力低,制備超薄切片(通常為50~100 nm)。要在機體死亡后的數(shù)分鐘內(nèi)取材,組織塊要小(1mm3以內(nèi)),常用戊二醛和鋨酸雙重固定,包埋介質(zhì)包埋,用超薄切片機切成薄片,再經(jīng)醋酸鈾和檸檬酸鉛等進行電子染色。
透射電鏡實驗實驗流程1.取材2.固定3.脫水4.包埋5.固化6.超薄切片機切片(50-60 nm)7.3%醋酸鈾-枸櫞酸鉛雙染色8.透射電鏡觀察,拍片
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